林 波,趙乃輝,趙子龍,鄒 森
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二研究所,山西太原030024)
溫度系數(shù)測(cè)試儀模擬了在太空真空環(huán)境溫度大范圍變化的環(huán)境中,采集記錄并測(cè)試工件的溫度系數(shù)變化情況。
目前,國(guó)內(nèi)外溫度變化范圍在-160℃~+140℃的溫度系數(shù)測(cè)試儀尚屬空白,該技術(shù)能夠提供在高真空環(huán)境中溫度從-160℃到+140℃的轉(zhuǎn)換環(huán)境。其優(yōu)點(diǎn)是抽氣速度快,能夠在20 min內(nèi)達(dá)到0.1 Pa以下并保持工作真空<0.1 Pa。在-160℃~+140℃整個(gè)溫度范圍內(nèi)工件表面不會(huì)出現(xiàn)結(jié)霜現(xiàn)象。工件溫度在+10℃~+140℃之間升溫速度連續(xù)可調(diào),并可停留在其間任意溫度進(jìn)行測(cè)試,測(cè)溫精度可達(dá)±0.2℃。
目前我國(guó)航空航天事業(yè)蓬勃發(fā)展,很多器件都需要做模擬太空溫度環(huán)境變化的試驗(yàn)。該設(shè)備填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)在環(huán)境試驗(yàn)方面的一個(gè)空白,為模擬太空中真空環(huán)境及大范圍的溫度變化情況提供了一種新的實(shí)驗(yàn)環(huán)境。
實(shí)際生產(chǎn)中溫度系數(shù)測(cè)試儀的工藝流程,如圖1所示。
工作腔體尺寸:φ320 mm×400 mm
工作臺(tái)尺寸:200 mm×200 mm
工作真空:0.1 Pa
工作溫度:-160℃~+140℃
抽氣速度:20 min內(nèi)達(dá)0.1 Pa
壓 升 率:2 Pa/h
溫度測(cè)試精度:±0.2℃
工件溫度在+10℃~+140℃之間升溫速度連續(xù)可調(diào),并可停留在其間任意溫度,溫度在-160℃~+10℃之間靠液氮制冷降溫,降溫速度不可精確調(diào)節(jié),只能通過(guò)液氮的流量簡(jiǎn)易控制。
圖1 溫度系數(shù)測(cè)試工藝流程
通過(guò)真空泵使工作腔體內(nèi)的真空度達(dá)到所需要求,而模擬太空中無(wú)大氣的環(huán)境。將電池放置在冷熱工作臺(tái)上并與測(cè)量導(dǎo)線接通,通過(guò)灌入液氮和加熱板來(lái)得到-160℃~+140℃之間溫度。經(jīng)過(guò)太陽(yáng)能照射儀的照射就可從計(jì)算機(jī)中得到所需太陽(yáng)能電池的主要特性參數(shù)的溫度系數(shù)。
設(shè)備的主要機(jī)械結(jié)構(gòu)見(jiàn)圖2
溫度系數(shù)測(cè)試儀主要由工作腔體、冷熱工作臺(tái)、真空系統(tǒng)、液氮系統(tǒng)、控制系統(tǒng)和測(cè)量系統(tǒng)六部分構(gòu)成。工作腔體安裝于機(jī)架上;冷熱工作臺(tái)在工作腔體內(nèi);真空系統(tǒng)在機(jī)架內(nèi)部,數(shù)顯式真空計(jì)使工作狀態(tài)顯示更加清晰;液氮系統(tǒng)位于機(jī)架后側(cè);控制系統(tǒng)和測(cè)量系統(tǒng)的按鈕均布置在機(jī)架前部的控制面板之上,便于控制操作和觀察;溫度通過(guò)溫度測(cè)量元件和溫度控制儀表設(shè)定。
圖2 設(shè)備主要機(jī)械結(jié)構(gòu)示意圖
3.2.1 工作腔體
工作腔體由上下兩個(gè)半腔組成(見(jiàn)圖3)。上半腔體由不銹鋼焊接而成,光照窗口選用石英玻璃。石英玻璃材質(zhì)具有雜質(zhì)少、純度高、強(qiáng)度大等特點(diǎn),因此選用一塊尺寸較大的石英玻璃做上照射窗口。經(jīng)過(guò)特殊加工的石英玻璃表面平整強(qiáng)度高,當(dāng)達(dá)到高真空時(shí)不會(huì)發(fā)生玻璃的變形或破損。用太陽(yáng)光照模擬工作時(shí),可使更多的光線通過(guò)石英玻璃照射到被測(cè)試工件的表面,同時(shí)光線通過(guò)玻璃時(shí)不會(huì)因其中含有的雜質(zhì)過(guò)多而使光線的波長(zhǎng)發(fā)生變化,使試驗(yàn)數(shù)據(jù)更加接近真實(shí)情況。
圖3 工作腔體結(jié)構(gòu)示意圖
為方便電池裝卸,上半腔體可以拆下。下半腔體完全由不銹鋼焊接而成,主要用來(lái)安裝冷熱平臺(tái)、電纜轉(zhuǎn)接頭、液氮管路和真空管路,是整個(gè)設(shè)備的基礎(chǔ)。見(jiàn)圖4、圖5。
圖4 上半腔體結(jié)構(gòu)示意圖
圖5 下半腔體結(jié)構(gòu)示意圖
3.2.2 冷熱工作臺(tái)
圖6 冷熱工作臺(tái)剖視圖
圖7 冷熱工作臺(tái)俯視圖
冷熱工作臺(tái)由工作臺(tái)、均溫層、加熱臺(tái)和液氮罐組成。如圖6、圖7所示。工作臺(tái)尺寸為200 mm×200 mm,采用冷熱良導(dǎo)體銅材制成,其上表面鋪設(shè)一層均溫層。均溫層為了使工作臺(tái)的表面溫度均勻而設(shè)置,采用碳纖維材料制作。加熱臺(tái)采用銅材制作,內(nèi)部均勻埋設(shè)低電壓加熱絲(電壓36 V)。最下方放置液氮罐,采用不銹鋼焊接而成,內(nèi)部添加導(dǎo)熱條,可加快上表面溫度變化速度和溫度的均勻性。
3.2.3 控制系統(tǒng)
設(shè)備在整個(gè)控制過(guò)程中有很強(qiáng)的時(shí)序性邏輯性,所以采用了穩(wěn)定可靠的可編程控制器進(jìn)行順序控制,通過(guò)觸摸屏操作,使操作變得簡(jiǎn)單形象安全。設(shè)備具有手、自動(dòng)操作功能。自動(dòng)運(yùn)行過(guò)程中可隨時(shí)切換為手動(dòng)。
加熱控制采用日本導(dǎo)電的儀表控制,可以精確的設(shè)定十條加溫曲線,從而控制加熱臺(tái)的升溫。溫度采用數(shù)顯PID溫控儀控制,控制簡(jiǎn)單,運(yùn)行可靠。
對(duì)于此冷熱工作臺(tái)的加熱,我們目前掌握低溫的加熱方式有5種:加熱袋 ,加熱板,電加熱管,電感應(yīng)加熱,紅外輻射加熱。5種加熱方式的對(duì)比見(jiàn)表1。
表1 加熱方式對(duì)比
從表1中我們可以根據(jù)需要來(lái)選擇不同的加熱方式。對(duì)此設(shè)備我們選用了電加熱管。
真空系統(tǒng)的泵、閥門等動(dòng)作均可通過(guò)觸屏上的操作按鈕控制真空泵,各種閥采用PLC控制,方便靈活。
3.2.4 測(cè)量系統(tǒng)
溫度系數(shù)測(cè)試儀配備一臺(tái)數(shù)字源表和一臺(tái)數(shù)字表,并提供一臺(tái)計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)采樣單元和一套軟件。此軟件能夠測(cè)試太陽(yáng)能電池在垂直光照射條件下從-160℃至+140℃任意溫度下的光、電轉(zhuǎn)換特性,即I-V曲線,同時(shí)記錄溫度并且數(shù)據(jù)存盤。I-V曲線為電池在光照條件下,從短路到開(kāi)路的工作過(guò)程,主要數(shù)據(jù)包括:短路電流Isc、開(kāi)路電壓Voc、最大輸出功率Pmax、最大輸出功率點(diǎn)的電壓Vm和電流Im、填充因子FF(FF=Pmax/Isc/Voc)。得到以上數(shù)據(jù)便能夠計(jì)算出太陽(yáng)能電池主要特性參數(shù)的溫度系數(shù):
短路電流Isc溫度系數(shù)=△Isc/△T
開(kāi)路電壓Voc溫度系數(shù)=△Voc/△T
最大輸出功率Pmax溫度系數(shù)=△Pmax/△T
填充因子FF溫度系數(shù)=△FF/△T
在真空、高低溫環(huán)境中可進(jìn)行I-V曲線測(cè)試、數(shù)據(jù)的采集。
測(cè)試分為定點(diǎn)電壓電流測(cè)試,曲線I-V測(cè)試,以及在不同溫度下的多條曲線測(cè)試。
測(cè)試數(shù)據(jù)可存盤打印,存盤數(shù)據(jù)包括:
電池編號(hào)、短路電流Isc、開(kāi)路電壓Voc、曲線電壓、曲線電流、最大輸出功率Pmax、最大輸出功率點(diǎn)的電壓Vm和 Im、填充因子FF、短路電流溫度系數(shù)、開(kāi)路電壓溫度系數(shù)、最大輸出功率溫度系數(shù)、填充因子溫度系數(shù)。
3.2.5 真空系統(tǒng)
為充分模擬真空環(huán)境中的條件同時(shí)避免在冷熱狀況交替時(shí)在工件表面產(chǎn)生水氣,必須盡可能地降低真空度。因此選擇了機(jī)械泵+分子泵組成的泵組,這樣就可以保證在短時(shí)間內(nèi)使腔體內(nèi)真空度達(dá)到0.1 Pa,同時(shí)達(dá)到凈化腔體消除水氣的目的。
3.2.6 液氮系統(tǒng)
采用自增壓液氮罐自動(dòng)為系統(tǒng)提供液氮,并可通過(guò)調(diào)節(jié)閥門的開(kāi)啟量簡(jiǎn)易控制降溫速度。
目前,在國(guó)內(nèi)外-160℃~+140℃的溫度系數(shù)測(cè)試儀尚屬空白,很多太空用元器件都需要在模擬太空環(huán)境下測(cè)試并記錄元器件的各個(gè)性能指標(biāo)。溫度系數(shù)測(cè)試儀為在高真空下采集、記錄并測(cè)試元器件隨溫度大范圍變化時(shí)各項(xiàng)電性能指標(biāo)提供了一種便捷的手段。
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