張俊杰,李政陽,葉聲華
1.天津大學精密儀器與光電子工程學院,天津 300072;2.北京航天計量測試技術(shù)研究所,北京 100076
精密光機工程的發(fā)展對測角精度要求越來越高[1-5],因此對光電自準直儀準確度的要求也越來越高[6-8],而要提高自準直儀的準確度,首先要提高分辨力[9-12]。采用在自準直光路中增加光學放大環(huán)節(jié)的方法能大幅度提高分辨力,自準直儀的外形尺寸又不顯著增加,而且對靜態(tài)和動態(tài)數(shù)字式的自準直儀都能適用。
按自準直原理,CCD自準直儀的分辨力為:
式中 Δα為自準直儀的分辨力,單位為角秒,Δt為CCD相鄰像元的間距,單位為 mm,N為 CCD信號的軟件細分數(shù),f′為準直物鏡的焦距,單位為 mm,ρ″為轉(zhuǎn)換系數(shù),ρ=206 265。
要提高分辨力即減小 Δα,需提高自準直像位移量的測量分辨力,包括減小 Δt和增大 N,或增大焦距 f′,但是減小 Δt受元件限制,增大 N會加劇示值跳動,增加 f′會使自準直儀長度增大,因此提高的幅度都不大。
把返回光形成的自準直像先用顯微物鏡放大,再由 CCD轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?。如圖 1,O為自準直像,也是顯微物鏡的物面,O′為 O經(jīng)顯微物鏡所成的像,當自準直像 O位移 t時,像 O′相應(yīng)的位移量為 t′,t′=kt,可測出的最小位移 d t為:
圖1 光學放大原理圖
式中 k為顯微物鏡的放大倍數(shù),v為物距,u為像距,即顯微物鏡把自準直像的大小放大 k倍的同時把其位移量也放大了 k倍。代入式,加光學放大后分辨力公式為:
由式(3)可測出的最小角 Δα是式的 1/k倍,從而大幅度提高了分辨力。為便于分析,可看作 kf′為當量焦距,增加光學放大后,相當于準直物鏡的焦距增大了 k倍。
光學系統(tǒng)見圖 2,由準直光路與顯微物鏡放大光路兩部分組成,準直物鏡為攝遠型物鏡,其像面與顯微物鏡的物面重合。顯微物鏡的孔徑光闌設(shè)置在后焦點處,構(gòu)成物方遠心光路以消減自準直像離焦產(chǎn)生的誤差,并使顯微物鏡的入瞳與準直物鏡的出瞳位置重合。放大光路采用折疊式設(shè)計以縮小系統(tǒng)的軸向尺寸。光學系統(tǒng)參數(shù)見表 1。
表1 光學系統(tǒng)參數(shù)
整個光學系統(tǒng)像差的點列圖見圖 3,傳遞函數(shù)圖見圖 4,已接近衍射極限,全系統(tǒng)的畸變小于0.01%,曲線見圖 5。
圖3 系統(tǒng)點列圖
圖4 傳遞函數(shù)圖
圖5 畸變曲線圖
CCD像元間隔 Δt=0.008mm,軟件細分數(shù) N=32,物鏡焦距 f′=1 100mm,顯微物鏡光學放大倍數(shù)k=20,則最小顯示值為
研制的樣機最小顯示值為 0.001″,包含示值跳動量在內(nèi),分辨力 <0.005″,用臂長為 400 mm的正弦臂式激光小角度校準裝置檢測結(jié)果,補償前的示值誤差在 ±50″全量程范圍內(nèi)為 +0.097″和-0.050″,表達了設(shè)計和工藝的質(zhì)量,補償后的示值誤差在 ±10″測量范圍內(nèi)為 +0.005″和 -0.007″,±50″全量程內(nèi)為 +0.019″和 -0.017″,說明了提高分辨力對提高準確度的重要作用。
在自準直光路中,對返回光形成的自準直像增加光學放大環(huán)節(jié),能有效地提高測角分辨力,使最小顯示值為 0.001″,從而保證了自準直儀達到高準確度,示值誤差在 ±10″測量范圍內(nèi)為 ±0.01″,±50″全量程為 ±0.02″。而且這種方法對靜態(tài)和動態(tài)數(shù)字式的自準直儀都能選用。當放大光路采取折疊式設(shè)計時,自準直儀的長度尺寸可以不增加,僅增加寬度或高度尺寸,但是增加光學放大環(huán)節(jié)后,對同樣光敏面長度的線陣 CCD自準直儀的測量范圍將相應(yīng)減少。
[1]尚超,王淦泉,陳桂村.基于經(jīng)緯儀的感應(yīng)同步器測角精度檢測方法研究[J].傳感技術(shù)學報,2008,21(5):865-868.
[2]孫方金.角度計量,宇航計測技術(shù)[J].1999,19(02):22-24.
[3]胡玉禧,安連生.應(yīng)用光學[M].合肥:中國科學技術(shù)大學出版社,2002.
[4]Zhou Lili,Gindi Gene.Collimator Optim ization in SPECT Based on a Joint Detection and Localization Task[J].Physics in Medicine and Biology,2009,54(14):4423-4437.
[5]Loss Leandro A,Bebis George,Parvin Bahram.Tunable Tensor Voting for Regularizing Punctate Patterns of Membrane-Bound Protein Signals[C]//2009 IEEE International Symposium on Biomedical Imaging:From Nano to Macro,2009:1378-1381.
[6]Yang Lin,Cui Tiangang,Chen Bo.Imaging Performance and Test of Extreme Ultraviolet Telescope[C]//The International Society for Optical Engineering,2009,7437.
[7]Kurugol Sila,Dy Jennifer G,Rajadhyaksha Milind,etal.Localizing the Dermis/Epidermis Boundary in Reflectance Confocal Microscopy Images with a Hybrid Classification Algorithm[C]//2009 IEEE International Symposium on Biomedical Imaging:From Nano to Macro,2009:1322-1325.
[8]Ehret G,Pilarski F,Bergmann D,et al.A new High-Aperture 193 nm Microscope for the Traceable Dimensional Characterization of Micro-and Nanostructures[J].Measurement Science and Technology,2009,20(8).
[9]Heilemann Mike,Van De Linde Sebastian,Mukherjee Anindita,et al.Super-Resolution Imaging with Small Organic Fluorophores[J].Angewandte Chem ie-International Edition,2009,48(37):6903-6908.
[10]Park No-Cheol,Rhim Yoon-Chul,Park Kyoung-Su,et al.Improvement of Optical Resolution and Mechanical Robustness for Near-Field Recording System[C]//2009O ptical Data Storage Topical Meeting,ODS 2009,2009:46-48.
[11]Li Jianliang,Li Xiaohai,Lugg Robert,etal.Kenel Count Reduction in Model Based Optical Proximity Correction Process Models[J].Japanese Journal of Applied Physics,2009,48(62):06FA 051-06FA 055.
[12]Takeda Hiroyuki,Milanfar Peyman,Protter Matan,et al.Super-Resolution Without Explicit Subpixel Motion Estimation[J].IEEE Transactions on Image Processing,2009,18(9):1958-1975.