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      數(shù)字集成電路高級驗證測試方法

      2011-04-10 02:23:30史敬端程金海
      制造業(yè)自動化 2011年14期
      關(guān)鍵詞:斷言時鐘測試

      姜 琦,史敬端,劉 健,程金海

      JIANG Qi1,SHI Jing-duan2,LIU Jian2,CHENG Jin-hai2

      (1. 天津天鋼聯(lián)合特鋼有限公司 機(jī)動處,天津 301500;2. 天津電氣傳動設(shè)計研究所 市場部,天津 300180)

      0 引言

      隨著超大規(guī)模數(shù)字集成電路功能的日益完善和集成度的不斷提高,各個領(lǐng)域?qū)ζ涔δ茉O(shè)計完整性、可靠性要求也變得越來越高。因此,對數(shù)字集成電路的故障檢測、診斷方法、故障定位以及可測性設(shè)計技術(shù)進(jìn)行全面深入的研究具有重要的現(xiàn)實意義,這也是確保超大規(guī)模數(shù)字集成電路器件在使用中正常安全工作的重要手段。超大規(guī)模數(shù)字集成電路自身具備的高集成度特性增加了對其進(jìn)行測試和驗證的難度。在測試和驗證過程中,測試向量的生成又是最主要和最復(fù)雜的部分,且對測試效率和故障覆蓋率的要求也越來越高。

      目前的數(shù)字集成電路設(shè)計工具可以使設(shè)計師將主要精力集中在算法級和功能級設(shè)計,綜合工具自動對功能設(shè)計進(jìn)行RTL和門級綜合,這就對數(shù)字芯片傳統(tǒng)門級測試和驗證帶來了極大挑戰(zhàn)[1]:由于設(shè)計師使用綜合工具自動布局布線,因此設(shè)計師不清楚電路設(shè)計結(jié)構(gòu),因而無法進(jìn)行結(jié)構(gòu)級測試;另一方面,由于電路設(shè)計規(guī)模不斷增大,如果使用門級測試驗證方法,則需要占用大量的時間,有時甚至無法進(jìn)行。

      1 高級驗證測試方法

      數(shù)字集成電路的驗證測試是實現(xiàn)“從設(shè)計到測試無縫連接”的關(guān)鍵。在深亞微米制造工藝下,芯片驗證測試的重要性尤為突出。其主要功能是驗證設(shè)計和測試程序的正確性,確定芯片是否符合所有設(shè)計規(guī)范[2]。從測試驗證角度來說,電路描述的層次可以分為行為級描述、功能級描述、結(jié)構(gòu)級描述、開關(guān)級描述以及幾何級描述[3]。高級驗證測試方法指的是任何高于門級的驗證測試方法[4]。高級驗證測試的目的在于檢驗數(shù)字電路系統(tǒng)是否達(dá)到初始說明書上的要求,發(fā)現(xiàn)并改正其中的設(shè)計缺陷。在這個過程中,應(yīng)該有一個方法來衡量驗證的完整性,這個方法就是建立覆蓋模型。

      覆蓋模型一般包括覆蓋空間和覆蓋率度量。覆蓋空間引入及分類的目的在于將聲明、執(zhí)行、內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及外部調(diào)用驗證相互補(bǔ)充完整,將聲明中指出的和未指出的均實現(xiàn)驗證。在實現(xiàn)中,覆蓋空間中的聲明、執(zhí)行、內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及外部調(diào)用驗證相互補(bǔ)充完整性的檢查往往通過代碼覆蓋率報告完成。由于器件的全部功能由其輸入、輸出要求定義,所以一個捕捉這些要求的覆蓋空間可視為一個覆蓋模型的重要組成部分,這一部分往往通過功能驗證和斷言驗證來實現(xiàn)。覆蓋率度量包括四方面:隱含度量、顯性度量、聲明度量和執(zhí)行度量。

      2 覆蓋模型建立及應(yīng)用

      一個完整的覆蓋模型主要包括三方面內(nèi)容,即代碼覆蓋、斷言驗證和功能覆蓋。概括來說,建立覆蓋模型包括以下步驟:通過分析功能設(shè)計說明,記錄所有設(shè)計會用到的操作狀態(tài),從中提取模型參數(shù);捕捉所有操作狀態(tài)的參數(shù)值,繪制成表;根據(jù)各參數(shù)所有可能狀態(tài)定義所有節(jié)點,即每種組合為一個節(jié)點。設(shè)計并執(zhí)行一個覆蓋模型分為兩部分內(nèi)容,一部分是頂層設(shè)計,另一部分為細(xì)節(jié)設(shè)計。頂層設(shè)計關(guān)注器件本身的模型描述、定義的屬性以及屬性間的關(guān)系。頂層設(shè)計包括:用語言描述將要建立的模型、確定模型應(yīng)包括的屬性以及確定屬性間的關(guān)系。細(xì)節(jié)設(shè)計關(guān)注如何用驗證環(huán)境描述覆蓋模型設(shè)計。細(xì)節(jié)設(shè)計包括:哪些屬性必須被采樣、在驗證環(huán)境的何處進(jìn)行采樣以及何時進(jìn)行采樣并將其關(guān)聯(lián)起來。

      2.1 交互系統(tǒng)功能說明

      功能說明即系統(tǒng)的使用說明,是建立覆蓋模型的第一步,其用于描述系統(tǒng)的操作狀態(tài)及參數(shù)提取。

      驗證的交互系統(tǒng)包括2個控制設(shè)備和2個從屬設(shè)備。控制設(shè)備和從屬設(shè)備之間通過一個連接設(shè)備相連。同一時刻,只能有一個控制設(shè)備與一個從屬設(shè)備交互。任何控制設(shè)備都可以和任何一個從屬設(shè)備交互。事務(wù)可以是一個讀操作或?qū)懖僮?。連接設(shè)備用來決定哪個控制設(shè)備管理事務(wù),同時建立指定控制設(shè)備和從屬設(shè)備間的連接及成功處理該事務(wù)。

      2.1.1 控制設(shè)備

      控制設(shè)備可執(zhí)行讀和寫操作,支持在交互系統(tǒng)中控制兩個從屬設(shè)備。當(dāng)控制設(shè)備收到指令“bg”,就準(zhǔn)備開始一個事物,發(fā)出一個低電平有效的脈沖到信號“ask”上,然后等待一個“gnt”信號?!癵nt”信號是一個低電平有效信號。如果在2~5個時鐘周期內(nèi)沒有等到“gnt”信號,稍后控制設(shè)備將重試這個過程。如果在2~5個時鐘周期內(nèi)獲得了“gnt”信號,控制設(shè)備將立即斷言信號“avail”,用來確認(rèn)“gnt”信號的到達(dá)(“avail”信號是低電平有效信號)。

      2.1.2 連接設(shè)備

      連接設(shè)備負(fù)責(zé)兩個重要任務(wù):1)決定哪個控制設(shè)備管理與從屬設(shè)備之間的事務(wù)。2)建立一個特定的控制設(shè)備和一個從屬設(shè)備之間的連接。在一個給定的時間,控制設(shè)備可以通過斷言各自的“ask”信號來請求執(zhí)行事務(wù)。

      控制設(shè)備選定要與其建立事務(wù)的從屬設(shè)備后,連接設(shè)備將提供指定從屬設(shè)備的信息。由于兩個控制設(shè)備能與任何一個從屬設(shè)備建立事務(wù),因此連接設(shè)備必須監(jiān)控兩個控制設(shè)備的“sel”信號(即“sel1”和“sel2”)。在任何給定時間,要么兩個“sel”信號都處于三態(tài),要么其中一個處于三態(tài)。如果兩個“sel”都是三態(tài),那么在此時沒有事務(wù)請求。如果有一個事務(wù)請求,那么其中一個“sel”信號的值為0或1,具體的值依賴于選擇的目標(biāo)設(shè)備。如果連接設(shè)備的輸出信號“sel”(該信號為兩位)的最高位置為高,則從屬設(shè)備1被選中,如果最低位置為高,表示從屬設(shè)備0被選中。

      2.2 模塊級斷言驗證

      模塊級斷言驗證是實現(xiàn)覆蓋模型的第二步,即捕捉系統(tǒng)各個屬性、屬性間的關(guān)系以及所有操作狀態(tài)的參數(shù)值,從而得到驗證代碼。

      2.2.1 控制設(shè)備驗證

      根據(jù)控制設(shè)備的功能描述,可以分析出斷言驗證。每個控制設(shè)備只有一個“ask”、“gnt”、“avail”信號,是控制設(shè)備的單獨(dú)信號,因此在編程構(gòu)建系統(tǒng)時需調(diào)用兩個實例。一旦控制設(shè)備有一個請求信號,啟動信號要在2~5個時鐘周期內(nèi)到達(dá),此種情況下,如果信號“sel”為高,則在同一時鐘周期,控制設(shè)備應(yīng)斷言信號“avail”。三個時鐘周期后,從屬設(shè)備2應(yīng)該通過斷言信號“ready”確認(rèn)該選擇。

      仿真結(jié)果如圖1所示。

      斷言驗證結(jié)果分析如圖2所示。

      通過波形及結(jié)果分析可知,所有斷言均有效,其中成功兩次,失敗零次。

      2.2.2 連接設(shè)備驗證

      每個控制設(shè)備中有唯一的“avail”信號,其為連接設(shè)備的輸入。如果控制設(shè)備處于激活狀態(tài),其將信號“avail”置為低,因此,把兩個“avail”信號進(jìn)行“與”操作,如果結(jié)果為低,則可知總線狀態(tài)為激活;如果結(jié)果為低,則沒有控制設(shè)備處于激活狀態(tài)。

      圖1 控制設(shè)備仿真波形

      圖2 控制設(shè)備斷言驗證結(jié)果分析

      每個控制設(shè)備有唯一的一個“ask”信號,用來請求總線,而連接設(shè)備提高唯一的“gnt”信號。通過將所有的“ask”信號進(jìn)行“或”操作來判斷是否有控制設(shè)備存在有效請求;同理,將“gnt”信號進(jìn)行“或”操作,可知一個控制設(shè)備的請求獲得了許可。

      仿真結(jié)果如圖3所示。

      斷言驗證結(jié)果分析如圖4所示。

      通過波形及結(jié)果分析可知,所有斷言均有效,其中成功四十三次,失敗一次。

      2.3 系統(tǒng)級驗證

      當(dāng)對系統(tǒng)的各個模塊進(jìn)行驗證后,還要對系統(tǒng)的連接和協(xié)議進(jìn)行驗證,在任何一個給定的時間點,只能斷言一個“ready”信號,在任何給定的時鐘周期,只能激活一個“sel”信號,其他“sel”信號應(yīng)該是三態(tài),當(dāng)一個控制設(shè)備發(fā)出一個正確的請求后,在2~5個時鐘周期內(nèi),應(yīng)該實現(xiàn)一個正確的“gnt”,在任何給定時鐘周期,如果一個控制設(shè)備的“avail”信號被斷言,則3個時鐘周期后,相關(guān)的“ready”信號應(yīng)該被斷言,在任何給定的時鐘,如果控制設(shè)備的“avail”信號被解除斷言,則兩個時鐘周期后,相關(guān)的“ready”信號應(yīng)該被解除斷言,在任何給定的時鐘,如果沒有有效的事務(wù),則總線“data”和“datao”應(yīng)該為三態(tài)。

      仿真結(jié)果如圖5所示。

      斷言驗證結(jié)果分析如圖6所示。

      通過波形及結(jié)果分析可知,所有斷言均有效,其中成功一百九十次,失敗零次。

      2.4 功能覆蓋

      模塊級驗證和系統(tǒng)級驗證檢驗的是任何可能存在的違反指定的功能要求的情況,從而提高系統(tǒng)功能的可信等級。而從測試平臺角度考慮,在模擬中需要覆蓋系統(tǒng)功能的所有可能場景,因此在模擬中覆蓋的情景應(yīng)成為測試計劃的一部分。

      圖3 連接設(shè)備仿真波形

      圖4 連接設(shè)備斷言驗證結(jié)果分析

      圖5 系統(tǒng)級仿真波形

      圖6 系統(tǒng)級斷言驗證結(jié)果分析

      檢驗驗證的效果依然依賴于輸入激勵,如果輸入向量不能促使系統(tǒng)執(zhí)行某些情景,那么它們就不會被測試到。許多測試平臺采用隨機(jī)技術(shù)產(chǎn)生模擬的輸入激勵。一個非常通用的方法是運(yùn)行許多預(yù)先定義的事務(wù),然后測量對某些情景集合的覆蓋。通過約束控制輸入激勵的產(chǎn)生,會更加有效地覆蓋到各種場景。交互系統(tǒng)中有許多重要的功能,應(yīng)作為功能驗證的一部分被覆蓋到。

      請求場景:

      在任何給定的時間,有兩個控制設(shè)備可以請求訪問,即控制設(shè)備的“ask”信號有四種可能的組合,如表1所示:

      圖7 請求狀態(tài)仿真波形

      表1 控制設(shè)備請求場景

      圖8 請求狀態(tài)斷言驗證結(jié)果分析

      圖9 系統(tǒng)仿真驗證波形

      其中,“0”表示控制設(shè)備正在請求總線。

      仿真結(jié)果如圖7所示。

      斷言驗證結(jié)果分析如圖8所示。

      通過波形及結(jié)果分析可知,所有斷言均有效,其中成功四十次,失敗零次。

      2.5 結(jié)果分析

      通過系統(tǒng)驗證,發(fā)現(xiàn)在驗證過程中,雖然所有斷言均有效,但許多斷言未被覆蓋到,同時有一處斷言失敗,即屬性check_avail_gnt(圖9中向下箭頭處)。該屬性斷言當(dāng)控制設(shè)備完成該任務(wù)時,需解除對信號“avail”的斷言,連接設(shè)備在下一時鐘周期解除對“gnt”信號的斷言。

      此斷言失敗表明,當(dāng)任務(wù)完成后,為解除信號“avail”的斷言,從斷言失敗處到仿真結(jié)束,連接設(shè)備的狀態(tài)始終為控制設(shè)備2等待,同時結(jié)合代碼執(zhí)行率報告發(fā)現(xiàn),在斷言失敗處,連接設(shè)備模塊的程序為死循環(huán)狀態(tài),由此發(fā)現(xiàn)該系統(tǒng)的連接模塊設(shè)計存在缺陷。在交互系統(tǒng)驗證的例子中,系統(tǒng)功能驗證是通過斷言的方式來實現(xiàn)的,將失敗的斷言與其相應(yīng)處的代碼執(zhí)行報告結(jié)合分析,可以提高檢測到系統(tǒng)功能缺陷的效率。

      3 結(jié)論

      本文通過實例介紹了高級驗證測試方法的概念、作用以及應(yīng)用范圍,并通過SystemVerilog驗證語言結(jié)合具體實例在QuestaSim仿真軟件上實現(xiàn)了系統(tǒng)驗證過程。通過試驗可以看出,構(gòu)建覆蓋模型測試平臺可以提高驗證測試工作的效率、完備性、可靠性以及易控性。但高級驗證測試方法也存在不能精確預(yù)見門級故障覆蓋率的問題,因此未來的高級驗證測試技術(shù)還可以在可測性設(shè)計和層次化測試兩方面進(jìn)行深入研究,使覆蓋模型在具有代表性的同時對底層故障具有較高的覆蓋率。

      [1] Riesgo T,Uceda J,Aldana F,High-level testing for digital VLSI-a survey[A]. Proc Int Conf Industrial Electronics,Control,and Instrumentation[C]. Hawaii,USA. 1993. 1.402-407.

      [2] M. L. Bushnell,V. D. Agrawal,“Essentials of Electronic Testing for Digital,Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits”,Kluwer Academic Publishers,2000.

      [3] Jha N K,Gupta S. Testing of digital systems[M].Cambridge University Press,2003.

      [4] Kapur R. High level ATPG is important and is on its way[A]. Proc Int Test Conf[C]. Atlantic City,NJ,USA.1999.

      [5] Corno F,Reorda M S,Squillero G,RT-level ITC’s99 benchmarks and first ATPG result[J]. IEEE Design & Test of Computers,2000,17(3).

      [6] 成本茂,王紅,刑建輝,楊士元,數(shù)字電路的高層測試技術(shù)及發(fā)展趨勢[J]. 微電子學(xué),2006.

      [7] Andrew Piziali,“Functional Verification Coverage Measurement and Analysis”,Kluwer Academic Publishers,2004.

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