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      空空導(dǎo)彈定量環(huán)境應(yīng)力篩選方法研究

      2011-03-20 07:01:58王鑫
      關(guān)鍵詞:空空導(dǎo)彈元器件定量

      王鑫

      (中國空空導(dǎo)彈研究院,河南 洛陽 471003)

      1 引言

      環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS:Environment Stress Screening)試驗(yàn)是在產(chǎn)品上施加隨機(jī)振動及溫度循環(huán)應(yīng)力,以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障的一種工序或方法[1]。其目的在于發(fā)現(xiàn)和排除產(chǎn)品的早期失效,使其在出廠前便進(jìn)入隨機(jī)失效階段,以固有的可靠性水平交付用戶使用。對于空空導(dǎo)彈此類高可靠性要求的產(chǎn)品,高效的環(huán)境應(yīng)力篩選就更顯得非常關(guān)鍵。環(huán)境應(yīng)力篩選如不能最大限度地將潛在缺陷剔除,產(chǎn)品中即使存在很少的潛在缺陷也可能嚴(yán)重降低其使用可靠性。

      某型空空導(dǎo)彈從設(shè)計定型轉(zhuǎn)入批生產(chǎn)以后,由于產(chǎn)品復(fù)雜,技術(shù)要求高,工藝不夠成熟,相關(guān)人員的加工裝配經(jīng)驗(yàn)技術(shù)參差不齊,導(dǎo)致批產(chǎn)初期,產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)較大幅度的波動。隨著問題暴露,在生產(chǎn)和工藝上持續(xù)改進(jìn),使產(chǎn)品的可靠性逐步提高,接近設(shè)計定型時的固有可靠性水平。這符合復(fù)雜產(chǎn)品可靠性變化的一般規(guī)律[1],本文通過應(yīng)用定量環(huán)境應(yīng)力篩選方法,評估某型空空導(dǎo)彈批產(chǎn)交付過程中的環(huán)境應(yīng)力篩選過程,分析其在提高可靠性方面的實(shí)現(xiàn)程度。

      2 環(huán)境應(yīng)力篩選的原理

      環(huán)境應(yīng)力篩選是一種應(yīng)力篩選,是通過向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力,將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障,并通過檢驗(yàn)發(fā)現(xiàn)和排除的過程,是一種工藝手段。典型的應(yīng)力為隨機(jī)振動、溫度循環(huán)及電應(yīng)力。

      一般產(chǎn)品的故障率均服從于環(huán)境應(yīng)力──耐環(huán)境強(qiáng)度“干涉”理論。按照某一強(qiáng)度要求設(shè)計的產(chǎn)品,設(shè)其耐環(huán)境強(qiáng)度S服從正態(tài)分布,圖1中用概率PS表示;而設(shè)產(chǎn)品使用中經(jīng)受到的環(huán)境應(yīng)力E亦呈正態(tài)分布,圖1中用概率PE表示。當(dāng)產(chǎn)品耐受環(huán)境強(qiáng)度S遠(yuǎn)大于使用環(huán)境應(yīng)力E時,兩個分布的重疊區(qū)極?。茨铜h(huán)境強(qiáng)度S小于使用環(huán)境應(yīng)力E的概率較小)此時產(chǎn)品是較安全的。因此,設(shè)計上應(yīng)力圖使兩曲線分開,以提高產(chǎn)品的可靠性。實(shí)際上,由于經(jīng)濟(jì)上和客觀條件的限制,這是不易實(shí)現(xiàn)的。常見的情況是,兩條曲線有部分重疊,見圖1(a) 中的陰影區(qū)。該陰影區(qū)表明,產(chǎn)品中有一部分耐受環(huán)境強(qiáng)度的能力小于使用中實(shí)際能遇到的環(huán)境應(yīng)力,這些薄弱部分很可能在使用條件下被激發(fā)而發(fā)展成為故障。

      圖1 環(huán)境應(yīng)力篩選提高可靠性的機(jī)理

      環(huán)境應(yīng)力篩選就是在產(chǎn)品出廠前先給產(chǎn)品施加一個接近于或等于設(shè)計的耐環(huán)境強(qiáng)度(S)的應(yīng)力,使產(chǎn)品中耐環(huán)境應(yīng)力的能力小于施加的環(huán)境應(yīng)力的薄弱部分提前暴露并加以修復(fù),從而使產(chǎn)品中各部分耐環(huán)境的能力均大于施加的環(huán)境應(yīng)力,從而使陰影區(qū)的面積縮小,提高了產(chǎn)品的可靠性,見圖1(b)。

      對于電子產(chǎn)品,由于其所含的元器件眾多且工藝及裝配過程復(fù)雜,在批量生產(chǎn)中不可避免地會引入一些工藝和元件缺陷,故其耐環(huán)境強(qiáng)度不像圖1(a)實(shí)線那樣呈簡單的單峰正態(tài)分布,而是如圖1(b) 虛線所示的由兩個子集構(gòu)成的雙峰分布。其中,左邊的小峰是由總體中含缺陷產(chǎn)品所構(gòu)成的;而右邊的大峰是由總體中不含缺陷產(chǎn)品所構(gòu)成的。正是由于該次品小子集的存在,使電子產(chǎn)品的應(yīng)力環(huán)境干涉區(qū)面積大為增加,一旦這些混有次品的產(chǎn)品投入市場,在使用環(huán)境應(yīng)力的作用下就會產(chǎn)生早期故障。由于雙峰分布的兩個峰通常是有一定距離的,故ESS恰好可利用這一點(diǎn)通過適當(dāng)?shù)暮Y選應(yīng)力的作用既能挑出次品,而又不致影響正常產(chǎn)品的性能和壽命,從而使得投放市場的產(chǎn)品可靠性大為提高。

      有效的環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)具備以下特征:

      1)能夠很快析出潛在缺陷,包括能析出適當(dāng)數(shù)量的固有(設(shè)計)缺陷;

      2)不會引起不適當(dāng)?shù)脑O(shè)計故障,誘發(fā)附加的故障,消耗受篩產(chǎn)品壽命;

      3)不應(yīng)對制造過程增加限制。

      篩選是對剔除早期故障為目的的,如果篩選條件不當(dāng),篩選后的產(chǎn)品就不一定到達(dá)故障率基本恒定階段,如圖2所示。

      圖2 篩選剔除壽命期浴盆曲線中早期故障示意圖

      理想的篩選要求達(dá)到理想的B點(diǎn),則該篩選就能完全剔除早期故障,使產(chǎn)品進(jìn)入較低失效率的使用壽命期。但常規(guī)篩選往往只能達(dá)到圖上的A點(diǎn)至B點(diǎn)之間,且不能確切地知道常規(guī)篩選能夠達(dá)到哪一點(diǎn);篩選后殘留的缺陷還有多少也不知道,也就是說,常規(guī)篩選的最終效果如何是不能得知的。而定量篩選卻能回答該問題。

      3 定量環(huán)境應(yīng)力篩選

      3.1 定量環(huán)境應(yīng)力篩選的參數(shù)說明

      定量篩選是指要求篩選的結(jié)果與產(chǎn)品的可靠性目標(biāo)和成本閾值建立定量關(guān)系的篩選。定量篩選的主要變量是引入缺陷密度、篩選檢出度、析出量或殘留缺陷密度。其中,引入缺陷密度取決于制造過程中從元器件和制造工藝兩方面引入產(chǎn)品中的潛在缺陷數(shù)量;篩選檢出度取決于篩選用的應(yīng)力把引入的潛在缺陷加速發(fā)展成為故障的能力和所用的檢測儀表把這些故障檢出的能力;殘留缺陷密度或析出量則取決于引入缺陷密度和篩選檢出度[2]。

      這些變量及其相互關(guān)系如圖3所示。從圖3可以看出,在定量篩選過程中,通過制造過程中控制所用的元器件質(zhì)量和加工質(zhì)量來控制引入產(chǎn)品的缺陷數(shù)(DIN);通過選用適當(dāng)?shù)膽?yīng)力和檢測儀表來控制缺陷的析出量(F),從而使出廠產(chǎn)品中殘留的缺陷導(dǎo)致出現(xiàn)的故障的概率達(dá)到與產(chǎn)品要求的可靠性相一致的水平。

      圖3 制造過程對應(yīng)的定量篩選變量及其相互關(guān)系

      定量篩選的目標(biāo)與有可靠性目標(biāo)值的產(chǎn)品中的殘留缺陷密度(DR)有關(guān)。產(chǎn)品中殘留缺陷密度(DR)則與引入產(chǎn)品的缺陷密度(DIN)、篩選檢出度(TS)和檢測效率(DE)有關(guān),可用公式⑴表示:

      式(1)(2) 中:DR—?dú)埩羧毕菝芏?,個/每個產(chǎn)品;DIN—引入缺陷密度,個/每個產(chǎn)品;

      F—析出量,個/每個產(chǎn)品;

      TS—篩選檢出度;

      SS—篩選度;

      DE—檢測效率。

      2.2 定量環(huán)境應(yīng)力篩選的分析

      2.2.1 定量環(huán)境應(yīng)力篩選目標(biāo)的建立

      在產(chǎn)品承制方與使用方的合同中,一般規(guī)定了產(chǎn)品可接受故障率或產(chǎn)品的MTBF。如果達(dá)到定量環(huán)境應(yīng)力篩選的目標(biāo),即篩選后殘留缺陷密度目標(biāo)值DRG等于可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)要驗(yàn)證的MTBF驗(yàn)收值對應(yīng)產(chǎn)品允許的潛在缺陷數(shù),就表明此產(chǎn)品的可靠性已經(jīng)達(dá)到了驗(yàn)收要求。DRG可用公式(3)表示:

      2.2.2 控制參數(shù)的確定

      按GJB/Z 34規(guī)定的篩選大綱設(shè)計方法,根據(jù)合同規(guī)定的MTBF值,確定定量環(huán)境應(yīng)力篩選殘留缺陷目標(biāo)值DRG后,再結(jié)合施加應(yīng)力及其量值、檢測方法、受篩選的組裝等級,然后通過一系列的設(shè)計計算,使得按此大綱篩選后能將DIN減少到允許的DRG。

      若合同規(guī)定的MTBF的區(qū)間估計置信度為c,則一臺產(chǎn)品缺陷析出量的上下限分別為:

      可見,如果在某一批導(dǎo)彈(假設(shè)n發(fā)) 的篩選中,剔除的缺陷數(shù)在nf1和nf2之間,則該批產(chǎn)品滿足可靠性驗(yàn)收要求。

      2.2.3 篩選結(jié)果分析[3]

      按照定量環(huán)境應(yīng)力篩選大綱進(jìn)行篩選,對每一個暴露的缺陷進(jìn)行分析并予以排除,統(tǒng)計累計排除的缺陷數(shù)直到篩選結(jié)束。

      當(dāng)實(shí)際篩選中暴露的缺陷數(shù)在nf1和nf2之間,則說明產(chǎn)品滿足合同要求,判該批產(chǎn)品驗(yàn)收合格。

      當(dāng)實(shí)際篩選中暴露的缺陷數(shù)小于nf2時,則可判斷產(chǎn)品可靠性比過去高,其原因可能是所使用的元器件的質(zhì)量或制造工藝水平提高了,對這種情況一般不采取任何措施,判該批產(chǎn)品驗(yàn)收合格。

      當(dāng)實(shí)際篩選過程中暴露的故障數(shù)大于nf1時,則可判斷產(chǎn)品實(shí)際缺陷數(shù)比預(yù)期的多,其原因可能是元器件質(zhì)量下降或制造工藝出了問題,這時必須對受篩產(chǎn)品采取糾正措施,包括審查元器件篩選工藝和產(chǎn)品制造工藝,并在采取措施后重新進(jìn)行篩選,直至產(chǎn)品驗(yàn)收合格。

      4 定量環(huán)境應(yīng)力篩選的應(yīng)用

      某型空空導(dǎo)彈的結(jié)構(gòu)復(fù)雜,技術(shù)難度高,批產(chǎn)初期,產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)較大幅度的波動。隨著問題暴露,在設(shè)計和工藝上持續(xù)改進(jìn),使產(chǎn)品的可靠性逐步提高,通過對其四批產(chǎn)品的篩選效果進(jìn)行分析,分析其在提高可靠性方面的實(shí)現(xiàn)程度。

      該型導(dǎo)彈的驗(yàn)收合同規(guī)定該導(dǎo)彈的MTBF=75 h(在使用環(huán)境應(yīng)力下允許的故障率λD=1.3×10-2/h),區(qū)間估計置信度c=80%。按GJB/Z 34規(guī)定的方法,結(jié)合每一種元器(成)件的種類、質(zhì)量等級、環(huán)境類別以及連接類型計算該型導(dǎo)彈引入缺陷密度為2504823 PPM,則每發(fā)導(dǎo)彈的DIN=((25082/1000000) ≈2.5(個引入缺陷)。篩選后殘留缺陷密度目標(biāo)值由公式(3) 可知DRG=1.33(個引入缺陷)。

      根據(jù)公式(1) 得F=DIN-DR=1.17,由x2表查得自由度為2,置信度為80%的上、下限值為4.61和0.211。由缺陷析出量的上、下限公式得到該產(chǎn)品缺陷析出量的上、下限值分別為2.305和0.106。所以,導(dǎo)彈在按篩選大綱設(shè)計確定的應(yīng)力進(jìn)行篩選時,單發(fā)導(dǎo)彈出現(xiàn)的平均故障數(shù)在0.106到2.305之間均可認(rèn)為該批產(chǎn)品合格。

      實(shí)際篩選時,四批導(dǎo)彈的篩選結(jié)果對比見圖4。

      圖4中A批、B批的實(shí)際篩選過程中暴露的故障數(shù)大于上限,則可判斷產(chǎn)品實(shí)際缺陷數(shù)比預(yù)期的多,其原因主要是由于元器件質(zhì)量不高、工藝不夠成熟,相關(guān)人員的加工裝配經(jīng)驗(yàn)技術(shù)參差不齊而造成的,這時必須對受篩產(chǎn)品采取糾正措施,包括完善元器件篩選工藝和產(chǎn)品制造工藝,并在采取措施后重新進(jìn)行篩選,直至產(chǎn)品驗(yàn)收合格。

      圖4 各批導(dǎo)彈篩選結(jié)果對比圖

      采取措施后,從C批、D批的實(shí)際篩選過程中觀察,暴露的缺陷數(shù)明顯下降,并介于上、下限之間,則可判斷產(chǎn)品可靠性比過去高,說明裝機(jī)使用的元器件質(zhì)量及制造工藝水平有所提高,導(dǎo)致整批產(chǎn)品的可靠性顯著地增加,可判定該批導(dǎo)彈可以通過驗(yàn)收。

      5 結(jié)束語

      環(huán)境應(yīng)力篩選屬于工程試驗(yàn),是可靠性試驗(yàn)的一種,在提高導(dǎo)彈產(chǎn)品的可靠性方面已得到了廣泛的應(yīng)用,并取得了顯著的效果[4]。隨著產(chǎn)品材料和技術(shù)水平的發(fā)展,在定量環(huán)境應(yīng)力篩選和試驗(yàn)方法的選擇上,也應(yīng)不斷地研究和創(chuàng)新,以使環(huán)境應(yīng)力篩選能更有效地提高空空導(dǎo)彈的可靠性,確??湛諏?dǎo)彈戰(zhàn)斗力方面的優(yōu)勢。

      [1] GJB 1032-1990,電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法[S].

      [2] GJB/Z 34,電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南[S].

      [3] 祝耀昌,任占勇,丁其伯.可靠性試驗(yàn)[M].北京:國防工業(yè)出版社,1994.

      [4] 韓維航.電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)[J].裝備環(huán)境工程,2009,6(2):40-58.

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