姬 雷,陳小惠,焦紅平
(南京郵電大學(xué),江蘇 南京 210003)
在實(shí)際工程中,經(jīng)常會(huì)遇到需要檢測(cè)2個(gè)信號(hào)間的相位差,這也是研究網(wǎng)絡(luò)相頻特性中不可缺少的重要方面。在某些領(lǐng)域,精確地測(cè)量2個(gè)信號(hào)之間的相位差,具有很重要的意義。例如在電工儀表、同步檢測(cè)的數(shù)據(jù)處理以及電工實(shí)驗(yàn)中,常常需要測(cè)量2列同頻信號(hào)的相位差。
本文結(jié)合沙阻測(cè)濕實(shí)際工程,設(shè)計(jì)了一種基于AT89S52的32路沙阻相位檢測(cè)系統(tǒng),用于檢測(cè)交流信號(hào)經(jīng)過沙子后相位的改變量,相位檢測(cè)精度高,電路簡單,作為后續(xù)工程的重要參數(shù)。
本系統(tǒng)主要有信號(hào)發(fā)生、32路沙阻選擇、相位差檢測(cè)和液晶顯示模塊等幾大部分組成。在系統(tǒng)中我們利用信號(hào)發(fā)生器8038產(chǎn)生正弦波作為其原始信號(hào),利用多片八選一4051芯片對(duì)32路沙阻進(jìn)行選擇,然后選通一路送到相位差檢測(cè)部分。在數(shù)據(jù)處理部分,我們采用廉價(jià)、使用方便的單片機(jī)AT89S52,并且在后續(xù)工程中把采集到的相位數(shù)據(jù)送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行其他有用的運(yùn)算,在本實(shí)驗(yàn)中利用相位差測(cè)量算法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理并把結(jié)果送到液晶顯示模塊顯示出被測(cè)量的相位差,整個(gè)硬件電路的設(shè)計(jì)原理框圖如圖1所示。
圖1 檢測(cè)系統(tǒng)原理框圖
該測(cè)量系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)和局部控制過程為:實(shí)驗(yàn)中用到的精密信號(hào)發(fā)生器ICL0838用來產(chǎn)生起始正弦波,其電源電壓范圍寬,穩(wěn)定度高,精度高,易于使用。圖2為其信號(hào)發(fā)生器連接電路,芯片2腳Signal Out輸出峰峰值為2V,頻率為50Hz的正弦波,經(jīng)放大電路后峰峰值為10V作為信號(hào)源。
峰峰值為10V信號(hào)源經(jīng)跟隨電路后接32路沙阻測(cè)試電路如圖3所示。沙阻電路中,32對(duì)探針插入到沙子中,排列形式為8行4列,為了避免相互干擾,我們采取折回S型排列的方法。被測(cè)沙阻原理如下:被測(cè)沙群可以看做是電阻和電容的并聯(lián),當(dāng)信號(hào)源經(jīng)過沙阻時(shí),由電抗原理可知,存在一定的相位變化(延時(shí)或超前),對(duì)于電容來說,相位有延時(shí),其延時(shí)時(shí)間通過一定的算法可以轉(zhuǎn)化為相位偏移值,其算法見軟件設(shè)計(jì)部分。
圖2 信號(hào)發(fā)生器電路
圖3 32路沙阻測(cè)試電路
信號(hào)源經(jīng)沙阻后,通過CD4051BE兩級(jí)選通32路中的一路進(jìn)行相位數(shù)據(jù)采集,圖4是其中的一路。CD4051BE相當(dāng)于一個(gè)單刀八擲開關(guān),開關(guān)接通哪一通道由輸入的3位地址碼ABC來確定。INH引腳是禁止端,當(dāng)INH為0時(shí)芯片工作,供電電源VDD=+5V,VSS=0V,VEE=-5V。一級(jí)選通電路U1,U2,U3,U4為32路沙阻選出4路,U5、U6、U7、U8分別使4路均構(gòu)成回路,作為分壓電路。經(jīng)前期測(cè)量,不同濕度的沙阻的阻值不同,其阻值范圍約在3K到3M歐姆之間,因此分壓電路選取四個(gè)檔位,分別為3.3kΩ,33kΩ,330kΩ,3.3MΩ,由U5、U6、U7、U8中的2位地址碼AB來選通哪一個(gè)檔位,選通的規(guī)則是使分壓電路分壓約在2~4伏之間為宜。由于AT89S52的I/O口不夠用,因此用8255拓展I/O口,用來控制32路選通,使用8255的A口和B口。利用A口控制一級(jí)選通和最后的4路選一路;利用B口控制各檔位的選取。若U1,U2,U3,U4一級(jí)地址碼ABC(由PA0,PA1,PA2控制)為000則選通各8路的第1路,即Test8、Test16、Test24、Test32(各點(diǎn)如圖3所示),由U5、U6、U7、U8地址碼AB(分別由PC7,PC6,PC5,PC4,PC3,PC2,PC1,PC0控制)選通分壓電阻阻值,二級(jí)選通電路U9從一級(jí)選通電路4路中選出一路作為測(cè)試數(shù)據(jù)點(diǎn),由二級(jí)地址碼AB(由PA3,PA4控制)來確定是哪一路,若AB為00,則選通第一路。以此類推,通過控制PA口和PB口的電平來控制32路的選通,當(dāng)32路數(shù)據(jù)均采集后,為一次采集結(jié)束,再重復(fù)循環(huán)采集32路數(shù)據(jù)點(diǎn)。
圖4 32路沙阻選通電路
集經(jīng)過選通電路后,我們把相位采數(shù)據(jù)送入到相位檢測(cè)電路,檢測(cè)其與信號(hào)源的相位差,即相位偏移量。相位檢測(cè)電路由LM148四運(yùn)放芯片和74HC74雙D觸發(fā)器構(gòu)成,其中我們利用LM148構(gòu)成的部分電路實(shí)現(xiàn)過零檢測(cè),74HC74雙D觸發(fā)提取二者的相位差,如圖5所示。
圖5 相位檢測(cè)電路
2路信號(hào)Signal Out和Out分別接入兩個(gè)輸入端,如圖6所示,分別送入LM148電路,與零電位比較,經(jīng)整形后得到矩形脈沖V1和V2,達(dá)到實(shí)現(xiàn)過零檢測(cè)的目的,如圖7所示,經(jīng)74HC74后提取二者相位差值如圖8上方波形。其中,V1送入D觸發(fā)器U24A的CLK時(shí)鐘端,V2送入U(xiǎn)24B的CLK時(shí)鐘端,再將二者輸出端所采集的相位數(shù)據(jù)經(jīng)74LS86異或門之后,送到單片機(jī)的P3.2腳(INT0),用2次中斷來記錄相位差的延時(shí)時(shí)間。INT0中斷是下降沿觸發(fā),因此記錄相位差時(shí)先要將上升沿轉(zhuǎn)化為下降沿,使其中斷開始計(jì)時(shí),用P1.7腳來控制,即P1.7=1異或后使其輸出為0,產(chǎn)生中斷;當(dāng)再遇到下降沿時(shí),產(chǎn)生中斷,即計(jì)時(shí)結(jié)束,如圖8下方波形。記錄的時(shí)間用作轉(zhuǎn)化相位的初始數(shù)據(jù)。
圖6 Signal Out和Out輸入波形
圖7 過零檢測(cè)波形
圖8 相位差波形
本系統(tǒng)的軟件主要由32路選通部分,相位數(shù)據(jù)處理部分和液晶顯示模塊3部分組成。由于篇幅有限,只給出其主程序流程圖如圖9所示。在相位數(shù)據(jù)處理部分中,對(duì)采集的相位延時(shí)時(shí)間轉(zhuǎn)化成相位,其算法如下,2個(gè)頻率相同而相位不同的正弦信號(hào)Vi1=Asinωt和Vi2=Asinω(t+θ),信號(hào)源Vi1的頻率為50Hz,其周期時(shí)間為20ms,假設(shè)相位延時(shí)時(shí)間為Tms,相位為θ,則根據(jù)θ=T/20*360°可以算出延時(shí)的相位值,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)相位的目的。
圖9 系統(tǒng)軟件主程序流程圖
表1為本相位差測(cè)量系統(tǒng)在實(shí)驗(yàn)中測(cè)得的相位差數(shù)據(jù)表,這些數(shù)據(jù)是經(jīng)過軟件上做些修正后的相位差測(cè)量算法得到的。實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明了該系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)沙阻的相位進(jìn)行測(cè)量,并且測(cè)量相位差的精度小于 0.3 度。
信號(hào)源頻率50Hz,相位實(shí)際值45°,測(cè)得32路測(cè)量數(shù)據(jù)如下表1所示。
表1 32路相位差測(cè)量數(shù)據(jù)
本系統(tǒng)可靠性高,成本低,電路簡單,并且測(cè)量精度小于0.3°,用于檢測(cè)該工程32路沙阻相位參數(shù)問題,同時(shí),通過RS485總線和上位機(jī)控制,可以實(shí)現(xiàn)上百個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的相位數(shù)據(jù)采集、處理和傳輸,用作后續(xù)工程的關(guān)鍵參數(shù)之一。隨著對(duì)此技術(shù)的進(jìn)一步深入研究會(huì)發(fā)現(xiàn)其應(yīng)用面越來越廣泛,并將取得越來越多的應(yīng)用成果。例如,對(duì)本系統(tǒng)的硬件電路和軟件稍加改進(jìn)就可以通過間接的方法測(cè)出沙子的阻值和幅值,先測(cè)出分壓電路的阻值和幅值,通過有效值轉(zhuǎn)換,再經(jīng)過AD0832模數(shù)變換后,通過一定的算法可以求出。
[1] ICL8038 Data sheet Intersil Instruments.
[2] LM319 Data sheet Philips Instruments.
[3] 鄭珍.AD8302型相位差測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J].電子科技,2005(11).
[4] 陳憂先.相位檢測(cè)在微弱信號(hào)測(cè)量中的應(yīng)用[J].儀表技術(shù),2005(4).
[5] 潘洪明.同頻正弦信號(hào)間相位差測(cè)量的設(shè)計(jì)[J].電子工程師,2003,29(3):41-42.
[6] 操長茂.?dāng)?shù)字式相位差測(cè)量儀[J].儀表技術(shù),2003(2):18-19.
[7] 丁英麗.相位差的測(cè)量方法[J].電氣測(cè)量與儀器,2002(2).
[8] 王新賢.通用集成電路速查手冊(cè)[M].濟(jì)南:山東科學(xué)技術(shù)出版社,2002.