安捷倫在NEPCON上海2010展會(huì)展示最新的i3070系列5在線測(cè)試儀
2010-08-15 00:51:01本刊通訊員
電子與封裝 2010年5期
安捷倫科技公司將在最近的NEPCON上海2010展會(huì)上展示最新的Medalist i3070系列5在線測(cè)試儀。這一新測(cè)試平臺(tái)提供的許多重要特性包括：
（1）ASRU 提速使產(chǎn)量提高120%；
（2）萬(wàn)用卡編程提供附加的功能和靈活性；
（3）保護(hù)您 IC 的電源監(jiān)視電路；
（4）獲獎(jiǎng)覆蓋擴(kuò)展技術(shù)現(xiàn)在可覆蓋連接器和 IC。
仍在使用此前的i3070或3070測(cè)試儀的客戶現(xiàn)在能夠通過(guò)安捷倫的最省錢升級(jí)促銷活動(dòng)節(jié)省80%的資金升級(jí)到系列5。
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